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日本ENPLAS : ENPLAS BGA封装测试座/老化座BGA Test &Burn-in socket

ENPLAS BGA封装测试座/老化座BGA Test Burn-in socket Part Number Body Size Grid Row/Array Leads Pitch OTB-84(256)-1.0-04 11X11 10X10 3 ROW 84 1 OTB-100(256)-1.0-04 11X11 10X10 FULL 100 1 OTB-108(256)-1.0-05 13X13 12X12 4 ROW 108 1 OTB-119(153)-...

日本ENPLAS : ENPLAS QFN封装测试座/老化座QFN Test &Burn-in socket

ENPLAS QFN封装测试座/老化座QFN Test Burn-in socket Part Number Pin Count(e) D E REMARKS QFN-8(24)B-0.5-02 8 3 3 B QFN-8(24)BT-0.5-01 8 3 3 BT QFN-12(20)B-0.5-02 12 3 3 B QFN-12(20)BT-0.5-02 12 3 3 BT QFN-12(20)B-0.5-** 12 4 4 B QFN-12(20)BT-0...

日本ENPLAS : ENPLAS QFP(FPQ)封装测试座/老化座QFP Test &Burn-in soc

ENPLAS QFP封装测试座/老化座QFP Test Burn-in socket ENPLAS Burn-In Test Socket / ENPLAS 测试座 0.5mm、0.65mm 、0.8mm、1.0mmPitch Unit: mm Part Number Pin Count Pitch D1*E1 D*E FPQ-32-0.8-01 32 0.8 7X7 9X9 FPQ-44-0.8-19 44 0.8 10X10 12X12...

日本ENPLAS : ENPLAS QFP(OTQ)封装测试座/老化座QFP Test &Burn-in soc

ENPLAS QFP封装测试座/老化座QFP Test Burn-in socket ENPLAS Burn-In Test Socket / ENPLAS 测试座 PartNumber PinCount Pitch(e) Actuation Force D*E D1*E1 OTQ-44-0.8-01 44 0.8 1.8kg 13.9X13.9 10X10 OTQ-44-0.8-02 44 0.8 1.8kg 13.2X13.2 10X10 OTQ-...

日本ENPLAS : ENPLAS SOP系列

ENPLAS SOP封装测试座/老化座SOP Test Burn-in socket ENPLAS Burn-In Test Socket / ENPLAS测试座 Open-Top Socket SOP (PinchContact)Unit:mm Part Number Pin Count Pitch Actuation Force Tip-Tip Body Width Package Length OTS-8(16)-1.27-03 8 1.27 0...

日本ENPLAS : ENPLAS TSOP系列

ENPLAS TSOP封装测试座/老化座TSOP Test Burn-in socket ENPLAS Burn-In Test Socket / ENPLAS测试座...

日本ENPLAS : 烧录座SDP-UNIV-40TS,TSOP40转DIP40,TSOP40带板

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对TSOP40的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 TSOP40,引脚间距0.5mm 测试座 OTS-40-0.5-01 特点 TSOP40转DIP40,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(100mil),宽...

日本ENPLAS : 烧录座CNV-TSOP-EP1M32,TSOP32转DIP32,TSOP32带板

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对TSOP32的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 TSOP32,引脚间距0.5mm 测试座 OTS-32-0.5-01 特点 TSOP32转DIP32,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(100mil),宽...

日本ENPLAS : 烧录座CNV-TSOP-EP512,TSOP28转DIP28,TSOP28带板

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对TSOP28的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 TSOP28,引脚间距0.55mm 测试座 OTS-28-0.55-03 特点 TSOP28转DIP28,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(100mil),宽...

日本ENPLAS : 烧录座CNV-SSOP-34,SSOP34转DIP34,SSOP34带板

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对SSOP34的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 SSOP34、TSSOP34,引脚间距0.65mm 测试座 OTS-34-0.65-01 特点 SSOP34转DIP34,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(1...

日本ENPLAS : 烧录座CNV-SSOP-34-28,SSOP28转DIP28,SSOP28带板

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对SSOP28的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 SSOP28、TSSOP28,引脚间距0.65mm 测试座 OTS-28(34)-0.65-01 特点 SSOP28转DIP28,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(...

日本ENPLAS : 烧录座CNV-SSOP-28,SSOP28转DIP28,SOP28带板

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对SSOP28的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 SSOP28、TSSOP28,引脚间距0.65mm 测试座 OTS-28-0.65-01 特点 SSOP28转DIP28,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(1...

日本ENPLAS : CNV-SSOP-34(20P),SSOP20转DIP20,SSOP20带板

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对SSOP20的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 SSOP20、TSSOP20,引脚间距0.65mm 测试座 OTS-20(34)-0.65-01 特点 SSOP20转DIP20,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(...

日本ENPLAS : 烧录座CNV-SSOP-34(16P),SSOP16,SSOP16带板

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对SSOP16的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 SSOP16、TSSOP16,引脚间距0.65mm 测试座 OTS-16(34)-0.65-01 特点 SSOP16转DIP16,底板引出为双列直插排针,引脚间距2.54mm(...

日本ENPLAS : 烧录座CNV-SSOP-8,SSOP8转DIP8,SSOP8带板

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对SSOP8的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 SSOP8、TSSOP8,引脚间距0.65mm,含引脚宽度6.4mm 测试座 OTS-8(28)-0.65-01 特点 SSOP8转DIP8,底板引出为双列直插排针,引...

日本ENPLAS : 烧录座SDP-UNIV-44PS,SOP44转DIP44,SOP44带板

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对SOP44的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 SOP44、SOIC44、SO44,引脚间距1.27mm,含引脚宽度16mm 测试座 OTS-44-1.27-03 特点 SOP44转DIP44,底板引出为双列直插排针,...

日本ENPLAS : 烧录座CNV-SOP-DIP32,SOP32转DIP32,SOP32带板

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对SOP32的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 SOP32、SOIC32、SO32,引脚间距1.27mm,含引脚宽度14.12mm 测试座 OTS-32-1.27-16 特点 SOP32转DIP32,底板引出为双列直插排针...

日本ENPLAS : 烧录座CNV-SOP-DIP20,SOP20转DIP20,

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对SOP20的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 SOP20、SOIC20、SO20,引脚间距1.27mm,含引脚宽度7.9mm 测试座 OTS-20-1.27-01 特点 SOP20转DIP20,底板引出为双列直插排针,...

日本ENPLAS : 烧录座CNV-SOP-NDIP16,SOP8转DIP8,SOP带板(150MIL)

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对SOP8的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 SOP8、SOIC8、SO8,引脚间距1.27mm,含引脚宽度5.8mm 注:该编程座适用于AVR的SOP8封装 测试座 OTS-8(16)-1.27-03 特点 SOP8转...

日本ENPLAS : 烧录座CNV-SOP-DIP28,SOP28转DIP28,SOP28带板

产品简介 产品用途 编程座、测试座,对SOP28的IC芯片进行烧写、测试 适用封装 SOP28、SOIC28、SO28,引脚间距1.27mm,含引脚宽度10.4mm 测试座 FP-28-1.27-07 特点 SOP28转DIP28,底板引出为双列直插排针,...
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